Mikroskopy inspekcyjne do trójwymiarowych analiz powierzchni

Mikroskopy inspekcyjne DeltaPix do analiz trójwymiarowych powierzchni zapewniają wysoką rozdzielczość obrazu (do 600 nanometrów) w przystępnej cenie, oferując wszystkie niezbędne funkcje: od precyzyjnych pomiarów, przechwytywania obrazów i dokumentacji do generowania raportów zgodnych z wymaganiami przemysłowymi.

Zmotoryzowany mechanizm ogniskowania obrazu w mikroskopie zapewnia automatyczną regulację ostrości (autofocus), eliminując błędy ludzkie i przyspieszając pracę.

Systemy te łączą wysokiej jakości obiektywy, solidne statywy oraz wysokiej rozdzielczości kamery DeltaPix.

Zakres odległości roboczej od 174 mm do 56 mm umożliwia obserwację próbek o większej niż standardowa wysokości.

Możliwe do uzyskania powiększenia mieszczą się w zakresie od 11x do 14000x (w zależności od skompletowania, dotyczy obrazu obserwowanego na dołączonym monitorze 28”).

Najważniejsze cechy:

Automatyczna regulacja ostrości – szybki i precyzyjne uzyskiwanie ostrego obrazu badanej próbki
Super Depth of Field (SDF) – technika wykorzystywana do uzyskiwania obrazów o większej głębi ostrości niż ta, którą można osiągnąć przy pojedynczym zdjęciu. W mikroskopii, szczególnie przy badaniu bardzo małych obiektów, głębia ostrości jest często ograniczona. Dzięki technice „SDF” możliwe jest połączenie wielu zdjęć, wykonanych przy różnych ustawieniach ostrości, w jeden obraz, który ma większą głębię ostrości, umożliwiając wyraźne przedstawienie szczegółów na różnych poziomach obiektu.
3D Topography – trójwymiarowy model badanej próbki, wygenerowany za pomocą funkcji „SDF” (Super Depth of Field), można analizować z wykorzystaniem różnorodnych narzędzi pomiarowych z grupy „3D Topography”, pozwalających wykonywać kompleksową analizę powierzchni i analizę profilometryczną, pomiary chropowatości zgodnie z normą ISO 25178-2:2012, czy ocenę tekstury powierzchni zgodnie z normą ISO 4287.
Precyzyjne pomiary 3D – wizualizacja oraz precyzyjny pomiar parametrów 2D, takich jak kąty, odległości czy pola powierzchni, w środowisku 3D.
Raport z pomiarów może być jednym kliknięciem wyeksportowany do pliku PDF lub XML, na podstawie konfigurowalnego szablonu.
Oświetlenie w nowoczesnej technologii LED – zapewnia:
- Wysoki kontrast i wierne odwzorowanie barw obserwowanych obiektów.
- Długą żywotność, nawet do kilkudziesięciu tysięcy godzin.
- Brak nagrzewania próbki (w porównaniu z oświetlaczami tradycyjnymi).
Rodzaj oświetlacza dopasowany do potrzeb.
- Pierścieniowe – równomierne oświetlenie większych powierzchni ( praktyczne w inspekcji np. elektroniki).
- Światłowodowe punktowe, ustawiane pod dowolnym kątem – uwydatnia teksturę i rzeźbę powierzchni (np. analiza powierzchni).
- Przechodzące (DIA) – idealne do próbek przezroczystych (np. folie, szkło).
- Koaksjalne (w osi optycznej obiektywu) – eliminuje cienie, pozwala na obserwację powierzchni błyszczących i silnie odbijających światło, np. szlifów metalograficznych.
Solidny statyw mikroskopu z podstawą antywibracyjną minimalizuje drgania, zapewnia większą stabilność i precyzję w pomiarach.
Większa dokładność i powtarzalność – eliminacja błędów ludzkich i standaryzacja analiz.
Wysoki komfort i efektywność pracy.