Mikroskopy inspekcyjne do wielkopowierzchniowych analiz 3D

Mikroskopy inspekcyjne DeltaPix do wielkopowierzchniowych trójwymiarowych analiz zapewniają wysoką rozdzielczość obrazu w przystępnej cenie, oferując wszystkie niezbędne funkcje: od precyzyjnych pomiarów, przechwytywania obrazów i dokumentacji do generowania raportów zgodnych z wymaganiami przemysłowymi.

Zmotoryzowany mechanizm ogniskowania obrazu w mikroskopie zapewnia automatyczną regulację ostrości (autofocus) eliminując błędy ludzkie i przyspieszając pracę.

Zmotoryzowany stolik skanujący na próbki, o dużym zakresie przesuwu (nawet do 400 x 400 mm), umożliwia precyzyjne, zautomatyzowane pozycjonowanie próbki oraz automatyczne skanowanie dużych próbek.

Możliwość skonfigurowania stanowiska mikroskopowego do pracy w powiększeniach w zakresie od 50x do 9000x (obraz obserwowany na dołączonym monitorze 28”).

Cechy mikroskopów z zakresu trójwymiarowej analizy powierzchni:

Super Depth of Field (SDF) – technika wykorzystywana do uzyskiwania obrazów o większej głębi ostrości niż ta, którą można osiągnąć przy pojedynczym zdjęciu. W mikroskopii, szczególnie przy badaniu bardzo małych obiektów, głębia ostrości jest często ograniczona. Dzięki technice „SDF” możliwe jest połączenie wielu zdjęć, wykonanych przy różnych ustawieniach ostrości, w jeden obraz, który ma większą głębię ostrości, umożliwiając wyraźne przedstawienie szczegółów na różnych poziomach obiektu.
Automatyczne przechwytywanie skanów „SDF” – dzięki zautomatyzowanemu układowi ogniskowania obrazu, system mikroskopowy wykonuje szybkie skanowanie wyznaczonej głębi ostrości analizowanej próbki, uzyskując w ten sposób informacje i dane niezbędne do wygenerowania trójwymiarowego modelu badanej powierzchni lub całej próbki. Jest to analiza optyczna, nie występuje bezpośredni kontakt z analizowaną powierzchnią.
3D Topography – trójwymiarowy model badanej próbki, wygenerowany za pomocą funkcji „SDF” (Super Depth of Field), można analizować z wykorzystaniem różnorodnych narzędzi pomiarowych z grupy „3D Topography”, pozwalających wykonywać kompleksową analizę powierzchni i analizę profilometryczną, pomiary chropowatości zgodnie z normą ISO 25178-2:2012, czy ocenę tekstury powierzchni zgodnie z normą ISO 4287.

Dodatkowe cechy, wynikające z obecności stolika skanującego na próbki:

Płynna, wygodna i szybka nawigacja po dużym obszarze próbki za pomocą narzędzi w oprogramowaniu – możliwość obserwacji i analizy dużych próbek (większych niż pojedyncze pole widzenia mikroskopu), bez ich dotykania.
Funkcja „Auto Stitching” – automatyczne skanowanie dużych obszarów powierzchni badanych próbek (większych niż pojedyncze pole widzenia obserwowane przez mikroskop, w zależności od zakresu przesuwu danego modelu stolika skanującego), na zasadzie zszywania ze sobą obrazów z sąsiadujących pól widzenia w jeden skonsolidowany obraz całej próbki (mozaikę, mikro-panoramę).
Funkcja łącznia automatycznego skanowania „SDF” (Super Depth of Field) oraz „Auto Stitching” – optyczne mikroskopy inspekcyjne do analiz 3D, wyposażone w zmotoryzowany stolik skanujący w osiach XY, działają na zasadzie rejestrowania serii obrazów badanego obiektu z różnych pozycji przestrzennych. Stolik zmotoryzowany w osiach XY umożliwia precyzyjne automatyczne przesuwanie próbki w poziomie, co pozwala na skanowanie całej powierzchni z wysoką dokładnością. W połączeniu z funkcją „SDF” system mikroskopowy zbiera informacje o topografii powierzchni, tworząc trójwymiarową rekonstrukcję badanego obiektu. Funkcja pozwala również na automatyczne przechwytywanie szczegółowych obrazów 3D w zapisanych wcześniej wybranych pozycjach XYZ próbki, umożliwiając ich późniejszą analizę.

Pozostałe cechy:

Raport z pomiarów może być jednym kliknięciem wyeksportowany do pliku PDF lub XML, na podstawie konfigurowalnego szablonu.
Oświetlenie w nowoczesnej technologii LED – zapewnia:
- Wysoki kontrast i wierne odwzorowanie barw obserwowanych obiektów.
- Długą żywotność, nawet do kilkudziesięciu tysięcy godzin.
- Brak nagrzewania próbki (w porównaniu z oświetlaczami tradycyjnymi).
Rodzaj oświetlacza dopasowany do potrzeb.
- Pierścieniowe – równomierne oświetlenie większych powierzchni (praktyczne w inspekcji np. elektroniki).
- Światłowodowe punktowe, ustawiane pod dowolnym kątem – uwydatnia teksturę i rzeźbę powierzchni (np. analiza powierzchni).
- Przechodzące (DIA) – idealne do próbek przezroczystych (np. folie, szkło).
- Koaksjalne (w osi optycznej obiektywu) – eliminuje cienie, pozwala na obserwację powierzchni błyszczących i silnie odbijających światło, np. szlifów metalograficznych,
Solidny statyw mikroskopu z podstawą antywibracyjną minimalizuje drgania, zapewnia większą stabilność i precyzję w pomiarach.
Większa dokładność i powtarzalność – eliminacja błędów ludzkich i standaryzacja analiz.
Wysoki komfort i efektywność pracy.
Możliwość zastosowania uchylnej kolumny statywu zwiększa elastyczność pracy, umożliwiając łatwiejszą obserwację próbek o niestandardowych kształtach. Jest to szczególnie przydatne przy analizie dużych obiektów lub gdy wymagane jest niestandardowe ułożenie próbki.